IC与功率器件高温老化测控卡

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IC与功率器件高温老化测控卡 专用控制板卡与工业控制软件

专用控制板卡与工业控制软件

IC与功率器件高温老化测控卡

40组独立控制通道,25–175°C双向PID控温,多设备联网监控。

核心技术参数

适用器件IC / MOSFET / IGBT / SiC MOSFET
单卡工位40组独立控制通道
系统规模最多扩展至200个控制卡
温控范围25–175°C,支持升降双向PID控温
软件功能上位机自动启停,多设备联网监控

应用领域

  • 功率半导体器件可靠性测试
  • 批次老化筛选与质量验证
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